HS PA30-X相控阵探伤仪

产品图册

产品介绍

一、工作原理

1. 多阵元独立控制探头上排布数十至数百个压电晶片，仪器分别控制每个阵元的发射延迟时间。
2. 波束合成与偏转通过时序差让声波叠加，形成：
   • 可偏转的角度波束
   • 可聚焦的聚焦波束
   • 动态聚焦、电子扫查
3. 缺陷成像接收回波后，通过算法生成A 扫、B 扫、C 扫、S 扫、扇形视图（扇扫），直观显示缺陷位置、大小、深度、走向。

二、核心特点

1. 检测精度高可识别微小裂纹、未熔合、气孔、夹杂、疏松等，分辨率远高于常规单探头超声波。
2. 成像直观，易判读提供二维 / 三维图像，缺陷形态、位置一目了然，减少人为误判。
3. 扫查效率高一次扫查覆盖大范围，无需频繁移动探头，适合复杂焊缝、曲面工件。
4. 适应性强可检测焊缝、管材、板材、铸件、锻件、复合材料，适配复杂结构。
5. 可记录可追溯数据可存储、回放、导出报告，满足核电、航空、压力容器等行业规范要求。
6. 对人体与设备安全无辐射、无损伤、非接触式检测。

三、主要组成

• 主机（信号发射 / 接收、信号处理、显示系统）
• 相控阵探头（线阵、面阵、扇形阵、轮式探头）
• 编码器（用于扫查定位）
• 校准块、楔块、耦合剂
• 专业分析与报告软件

四、典型应用领域

• 压力容器、管道焊缝检测（石油化工、燃气、锅炉）
• 钢结构、桥梁、船舶焊接检测
• 航空航天：钛合金、铝合金、复合材料构件
• 核电装备：反应堆、管道、关键部件
• 轨道交通：钢轨、车轴、转向架探伤
• 汽车零部件、模具、铸件内部缺陷检测
• 风电：叶片、主轴、法兰焊缝检测

五、与常规超声波探伤对比

• 常规 UT：单探头、固定角度、单点扫查，依赖经验，无完整成像。
• 相控阵 PAUT：电子聚焦、电子偏转、成像显示、覆盖范围大、精度更高、数据可追溯。